ค้นพบโซลูชันมาตรวิทยา 3 มิติแบบออปติคอลคุณภาพสูง
ค้นพบเทคโนโลยีล้ำสมัยของมาตรวิทยา 3 มิติแบบออปติคอลคุณภาพสูงกับ Xi'an DIPSEC Metrology Equipment Co., Ltd. โซลูชันมาตรวิทยา 3 มิติแบบออปติคอลขั้นสูงของเราได้รับการออกแบบมาเพื่อตอบสนองความต้องการด้านการควบคุมคุณภาพและการตรวจสอบที่เป็นที่ต้องการมากที่สุดในอุตสาหกรรมต่างๆ โดยใช้สถานะ เทคนิคการวัดด้วยแสงที่ทันสมัย อุปกรณ์มาตรวิทยาของเราให้การวัด 3 มิติที่แม่นยำและแม่นยำของพื้นผิวและรูปทรงเรขาคณิตที่ซับซ้อน ด้วยความสามารถในการรวบรวมข้อมูลโดยละเอียดในลักษณะที่ไม่สัมผัส ระบบของเราจึงเหมาะอย่างยิ่งสำหรับการตรวจสอบและวิเคราะห์ส่วนประกอบที่หลากหลาย ตั้งแต่ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ขนาดเล็กไปจนถึงการประกอบเครื่องจักรกลขนาดใหญ่ สัมผัสพลังแห่งความแม่นยำและประสิทธิภาพด้วย Xi'an DIPSEC Metrology บริษัท อีควิปเมนท์ จำกัด
