正確な測定を実現する高精度光学式三次元測定機 |高度な計測ソリューション
当社の光学式 CMM は、西安 DIPSEC Metrology Equipment Co., Ltd. によって設計および製造された高度な計測ソリューションです。この最先端技術は、精密光学と非接触測定技術を統合し、複雑なコンポーネントの正確かつ効率的な検査を実現します。は高速スキャンと包括的な測定機能を提供し、複雑な形状と細かい詳細を持つ部品の詳細な分析を可能にします。このシステムには、自動データ収集と分析を可能にする最先端のソフトウェアが装備されており、生産性が向上し、人的エラーの可能性が軽減されます。非接触測定アプローチにより、当社の光学式 CMM は繊細な材料や敏感な材料の検査に最適です。ダメージを与えずに。また、高い柔軟性も備えており、航空宇宙や自動車から医療機器製造に至るまで、幅広い業界に適しています。西安 DIPSEC 計測機器有限公司では、信頼性の高い革新的な計測を提供することに尽力しています。当社の光学式 CMM はその取り組みの証です。高度な機能と比類のない精度を備えた当社の光学式 CMM は、あらゆる品質管理または検査プロセスにとって貴重な資産です。
