CMM の動的パフォーマンスによるスキャンへの影響は何ですか

1. 動的パフォーマンスの低下

ダイナミックなパフォーマンスは、三次元測定機高速スキャンの精度が制限され、高速スキャンが妨げられます。
スキャニング測定はトリガー測定とは異なり、測定機はプロセス全体を通じて慣性負荷に耐えることになるため、静的性能よりも動的性能が重要です。慣性荷重は測定機の構造に変形を引き起こしますが、これは予測が困難です。
従来のスキャン システムは、スキャン速度を低下させることでスキャン精度を満たしていましたが、これは動的パフォーマンスの障壁を犠牲にしていたものです。

2. 動的エラー

スキャンすると慣性力が発生します。慣性力を補正しないと測定誤差の原因となります。
離散点の測定では慣性力のイメージは明らかではありませんが、スキャンでは加速度とその結果として生じる慣性負荷の影響が明らかです。速度が上がると加速も増します。実際、加速度はより速く増加し、一般的なスキャン軌跡曲線では、加速度の変化率は速度の変化率の 2 乗になります。

低速では慣性力の影響は無視できます。伝統的なスキャンシステムにはいかなる種類の動的補償もなく、低速領域でのみ機能します。速度が増加すると、測定パフォーマンスに影響を与える主な要因になります。ほとんど三次元測定機は実稼働環境で使用されるため、時間の測定は非常に重要です。測定をより迅速に行うことができれば、その利点は明らかです。

3. 動的誤差に影響を与える要因

重要な機能の動的エラーは、その予測不可能性です。マシンの動的パフォーマンスに影響を与える要因は数多くありますが、これらすべての要因を考慮できる高度な測定方法を見つけるのは非現実的であり、ほとんどの環境では限界があります。これらの影響要因は次のように分類されます。

1) 制御システムの応答速度: 制御システムの応答速度が遅いほど、動的誤差は大きくなります。高速応答システムによりエラーをより正確に修正できる

迅速に実行できるため、動的エラーが軽減されます。

2) 制御システムの安定性: 制御システムが不安定だと発振が発生し、動的誤差が増加する可能性があります。

3) 外部擾乱: 外部擾乱はシステムのパフォーマンスに影響を与え、動的エラーの生成につながります。

4) 制御システムの設計: 制御ゲイン、積分時定数などの制御システムの設計パラメータは、動的性能と制御に直接影響します。

システムの動的エラー。

5) 制御システムの非線形特性: 非線形特性はシステムの動的挙動に変化を引き起こし、それによって動的サイズに影響を与えます。

エラー。

ご質問やアドバイスがございましたら、こちらまでお問い合わせください。海外0711@vip.163.com