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सीएमएम ट्रिगर और स्कैनिंग जांच

    जांच एवं सहायक उपकरण

    सीएमएम स्पेयर पार्ट्स (1)em3
    मैनुअल जांच
    • 15° वृद्धि पर सेट 168 दोहराने योग्य सूचकांक स्थितियों के साथ समायोज्य जांच अभिविन्यास से बढ़ी हुई निरीक्षण क्षमता
    • पुन: योग्यता की आवश्यकता के बिना प्रत्येक पूर्व-योग्य स्थिति में दोहराए जाने योग्य टीपी 20 स्टाइलस मॉड्यूल को बदलने से उत्पादकता में काफी वृद्धि होती है।
    • टीपी20 संगतता, मशीन के प्रदर्शन और पहुंच क्षमता को अनुकूलित करने के लिए बल और लंबाई विकल्पों की एक विस्तृत श्रृंखला प्रदान करती है।
    • पढ़ने में आसान स्केल तेजी से पुन:अभिविन्यास की अनुमति देता है।
    ऑटो जांच
    • कुल कोणीय गति
    • एक अक्ष के चारों ओर (क्षैतिज अक्ष): रेंज: 0°~105° न्यूनतम चरण:7.5°
    • बी अक्ष (ऊर्ध्वाधर अक्ष) के आसपास: रेंज: ±180° न्यूनतम। चरण: 7.5°
    • पदों की कुल संख्या: 720
    • मैक्स. आउटपुट टॉर्क: 0.45Nm
    • मैक्स. जांच विस्तार की अनुमेय लंबाई: 300 मिमी
    • वज़न: 645 ग्राम
    सीएमएम स्पेयर पार्ट्स (2) wrr
    सीएमएम स्पेयर पार्ट्स (3)1ut
    • ऑटोजॉइंट माउंट, दोहराने योग्य जांच स्थिति
    • ACR1 या ACR3 के माध्यम से तीव्र स्वचालित जांच इंटरचेंज
    • पूर्ण मल्टी-वायर क्षमता (PH10M पर M द्वारा डिज़ाइन किया गया)
    • 7.5° वृद्धि पर 720 दोहराए जाने योग्य स्थान
    • टॉर्क 300 मिमी (11.81 इंच) एक्सटेंशन बार उठाने में सक्षम
    • शैंक या क्विल माउंटिंग का उपयोग करके सीएमएम की एक विस्तृत श्रृंखला के लिए उपयुक्त
    • I++ डीएमई संचार, मेट्रोलॉजी सॉफ्टवेयर का विस्तृत चयन।
    • अधिकांश मामलों में मौजूदा कार्यक्रमों को संशोधित करने की कोई आवश्यकता नहीं है
    • मौजूदा उपकरणों के पुन: उपयोग की अनुमति देता है।
    • घूर्णन कोण: एक अक्ष -115°~115°; बी अक्ष ∞
    सीएमएम स्पेयर पार्ट्स (4)फिया
    सीएमएम स्पेयर पार्ट्स (5)sy5
    • दुनिया की सबसे कॉम्पैक्ट और बहुमुखी स्कैनिंग जांच प्रणाली
    • एक स्कैनिंग जांच, और टीपी20 स्टाइलस मॉड्यूल का उपयोग करके एक टच ट्रिगर जांच।
    • अत्यधिक मॉड्यूलर सिस्टम तत्वों के बीच तीव्र और दोहराव योग्य आदान-प्रदान माप कार्य के अनुरूप सबसे कुशल समाधान प्रदान करता है
    • 20~200मिमी (0.78~7.87 इंच) की संपूर्ण स्टाइलस रेंज में उत्कृष्ट स्कैनिंग सटीकता
    • आइसोलेशन ऑप्टिकल मेट्रोलॉजी तकनीक बेजोड़ माप प्रदर्शन देती है।
    • प्रोब को आर्टिकुलेटिंग हेड पर लगाया जा सकता है, जिससे कम स्टाइल के साथ कई सुविधाओं तक पहुंच की अनुमति मिलती है।
    • तेज माप गति
    • सिस्टम में उच्च परिशुद्धता है
    • मजबूत लचीलापन
    • आधार घूर्णन केंद्र से 800 मिमी तक का अक्षीय विस्तार
    • मल्टी-टाइप सेंसर जांच और स्टाइलस एक्सचेंज क्षमता
    • सिस्टम लचीलेपन में वृद्धि के लिए कम लागत वाले एक्सचेंज फ्रेम के साथ वियोज्य जांच प्रणाली
    सीएमएम स्पेयर पार्ट्स (6)m6k

    लेजर स्कैनिंग जांच

    सीएमएम स्पेयर पार्ट्स (7)उदाहरण
    सीएमएम स्पेयर पार्ट्स (8)ज़ू0

    नियंत्रक एवं सहायक उपकरण

    नियंत्रक एवं सहायक उपकरण (1)g8k नियंत्रक एवं सहायक उपकरण (2) ठीक है
    नियंत्रक एवं सहायक उपकरण (3)wtc नियंत्रक एवं सहायक उपकरण (4)7डी1

    108 टुकड़े स्थिरता

    सीएमएम स्पेयर पार्ट्स (9)पीपीएफ
    सीएमएम स्पेयर पार्ट्स (10)xsb

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